CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 51383 | LVS EN 62496-2-1:2012 | Optiskās shēmplates. Mērījumi. 2-1. daļa: Optiskais vājinājums un izolācija (IEC 62496-2-1:2011) | Standarts spēkā |
| 55702 | LVS EN 62496-1:2009 | Optiskās shēmplates. 1. daļa: Vispārīgi (IEC 62496-1:2008) | Standarts spēkā |
| 54553 | LVS EN 62129-2:2011 | Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 2. daļa: Uz Maikelsona interferometra bāzēti mērītāji atsevišķiem viļņa garumiem (IEC 62129-2:2011) | Standarts spēkā |
| 44695 | LVS EN 62129:2006 /AC:2007 | Optisko spektra analizatoru kalibrēšana | Atcelts |
| 43560 | LVS EN 62129:2006 | Optisko spektra analizatoru kalibrēšana | Atcelts |
| 60111 | LVS EN 62129-1:2016 | Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 1.daļa: Optiskā spektra analizatori (IEC 62129-1:2016) | Standarts spēkā |
| 56002 | LVS EN 62007-2:2002 | Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 2. daļa: Mērīšanas metodes | Atcelts |
| 56520 | LVS EN 62007-1:2002 | Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 1.daļa: Būtiskie robežlielumi un raksturojumi | Atcelts |
| 54022 | LVS EN 61751:2002 | Lāzeru moduļi telekomunikācijā - Uzticamības novērtējums | Atcelts |
| 59069 | LVS EN 61746-2:2011/AC:2015 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2.daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām | Standarts spēkā |
Attēlo no 21. līdz 30. no pavisam 76 ieraksta(-iem).