CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 59069 | LVS EN 61746-2:2011/AC:2015 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2.daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām | Standarts spēkā |
| 72493 | LVS EN IEC 61744:2023 | Optisko šķiedru hromatiskās dispersijas testa iekārtu kalibrēšana (IEC 61744:2023) | Standarts spēkā |
| 56620 | LVS EN 62496-2-4:2013 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-4. daļa: Optiskās pārvades tests optiskajām shēmplatēm bez ieejas/izejas šķiedrām (IEC 62496-2-4:2013) | Standarts spēkā |
| 62742 | LVS EN 62496-2:2017 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2.daļa: Optisko shēmplašu optisko raksturlielumu mērīšanas nosacījumu noteikšanas vispārīgie norādījumi (IEC 62496-2:2017) | Standarts spēkā |
| 49748 | LVS EN 62496-3-1:2010 | Optiskās shēmplates. Veiktspējas standarts. 3-1. daļa: Elastīgas optiskās shēmplates ar nesavienotām optiskajām stikla šķiedrām (IEC 62496-3-1:2009) | Standarts spēkā |
| 52524 | LVS EN 62496-2-2:2011 | Optiskās shēmplates. Mērījumi. 2-2. daļa: Optisko shēmplašu izmēri (IEC 62496-2-2:2011) | Standarts spēkā |
| 51553 | LVS EN 62496-4:2011 | Optiskās shēmplates. Saskarnes standarti. 4. daļa: Nostādnes un norādījumi (IEC 62496-4:2011) | Standarts spēkā |
| 58304 | LVS EN 61746-2:2011 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2. daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām (IEC 61746-2:2010) | Standarts spēkā |
| 54553 | EN 62129-2:2011 | Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 2: Michelson interferometer single wavelength meters | Standarts spēkā |
| 45306 | EN 62496-3:2011 | Cartes à circuits optiques - Partie 3: Normes de performance - Généralités et guide | Standarts spēkā |
Attēlo no 21. līdz 30. no pavisam 76 ieraksta(-iem).