Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
80697prEN IEC 62496-2-6:2026Optische Leiterplatten – Grundlegende Prüf- und Messverfahren – Teil 2-6: Nahfeldmusteranalyse von Multimode-Lichtwellenleitern mit rechteckigem(n) Kern(en) unter Verwendung der Methode des begrenzten LichtstromsAptauja slēgta
51742LVS EN 61744:2002Optisko šķiedru hromatiskās dispersijas testa iekārtu kalibrēšanaAtcelts
53479EN 61315:2006Calibration of fibre-optic power metersAtcelts
43560EN 62129:2006Kalibrierung von optischen SpektrumanalysatorenAtcelts
54022LVS EN 61751:2002Lāzeru moduļi telekomunikācijā - Uzticamības novērtējumsAtcelts
51742EN 61744:2001Kalibrierung von Prüf-Aufbauten zur Bestimmung der chromatischen DispersionAtcelts
56520EN 62007-1:2000Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 1: Valeurs limites et caractéristiques essentiellesAtcelts
54500LVS HD 436 S1:1983Abmessungen von LichtwellenleiternAtcelts
53669LVS EN 62522:2015Regulējamu lāzera avotu kalibrēšana (IEC 62522:2014)Atcelts
51251LVS EN 61746:2005Optisko laika funkcijas reflektometru (OTDR) kalibrēšanaAtcelts
Attēlo no 31. līdz 40. no pavisam 76 ieraksta(-iem).