CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 58304 | LVS EN 61746-2:2011 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2. daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām (IEC 61746-2:2010) | Standarts spēkā |
| 57020 | prEN 62129 | Calibration of optical spectrum analyzers | Izstrādē |
| 56620 | LVS EN 62496-2-4:2013 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-4. daļa: Optiskās pārvades tests optiskajām shēmplatēm bez ieejas/izejas šķiedrām (IEC 62496-2-4:2013) | Standarts spēkā |
| 56620 | EN 62496-2-4:2013 | Cartes à circuits optiques - Procédures fondamentales d'essais et de mesures - Partie 2-4: Essai de transmission optique des cartes à circuits optiques sans fibres d'entrée/sortie | Standarts spēkā |
| 56520 | LVS EN 62007-1:2002 | Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 1.daļa: Būtiskie robežlielumi un raksturojumi | Atcelts |
| 56520 | EN 62007-1:2000 | Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 1: Valeurs limites et caractéristiques essentielles | Atcelts |
| 56002 | LVS EN 62007-2:2002 | Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 2. daļa: Mērīšanas metodes | Atcelts |
| 56002 | EN 62007-2:2000 | Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 2: Meßverfahren | Atcelts |
| 55702 | LVS EN 62496-1:2009 | Optiskās shēmplates. 1. daļa: Vispārīgi (IEC 62496-1:2008) | Standarts spēkā |
| 55702 | EN 62496-1:2009 | Cartes à circuits optiques - Partie 1: Généralités | Izstrādē |
Attēlo no 31. līdz 40. no pavisam 76 ieraksta(-iem).