CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 63264 | LVS EN 61745:2018 | Gala virsmas attēla analīzes procedūra optisko šķiedru ģeometrijas testēšanas iekārtu kalibrēšanai (IEC 61745:2017) | Standarts spēkā |
| 42023 | LVS EN 61746-1:2011 | Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für Einmodenfasern | |
| 59068 | LVS EN 61746-1:2011/AC:2015 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 1.daļa: OTDR vienmodu šķiedrām | Standarts spēkā |
| 43553 | LVS EN 61746:2001 | Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) | Atcelts |
| 51251 | LVS EN 61746:2005 | Optisko laika funkcijas reflektometru (OTDR) kalibrēšana | Atcelts |
| 58304 | LVS EN 61746-2:2011 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2. daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām (IEC 61746-2:2010) | Standarts spēkā |
| 59069 | LVS EN 61746-2:2011/AC:2015 | Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2.daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām | Standarts spēkā |
| 54022 | LVS EN 61751:2002 | Lāzeru moduļi telekomunikācijā - Uzticamības novērtējums | Atcelts |
| 56520 | LVS EN 62007-1:2002 | Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 1.daļa: Būtiskie robežlielumi un raksturojumi | Atcelts |
| 56002 | LVS EN 62007-2:2002 | Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 2. daļa: Mērīšanas metodes | Atcelts |
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 76 ieraksta(-iem).