Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
56520EN 62007-1:2000Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 1: Wesentliche Grenz- und KennwerteAtcelts
56520LVS EN 62007-1:2002Šķiedroptisko sistēmu pusvadītāju optoelektroniskās ierīces - 1.daļa: Būtiskie robežlielumi un raksturojumiAtcelts
56620EN 62496-2-4:2013Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2-4: Optical transmission test for optical circuit boards without input/output fibresStandarts spēkā
56620LVS EN 62496-2-4:2013Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-4. daļa: Optiskās pārvades tests optiskajām shēmplatēm bez ieejas/izejas šķiedrām (IEC 62496-2-4:2013)Standarts spēkā
57020prEN 62129Calibration of optical spectrum analyzersIzstrādē
58304EN 61746-2:2011Etalonnage des réflectomètres optiques dans le domaine temporel (OTDR) - Partie 2: OTDR pour fibres multimodalesIzstrādē
58304LVS EN 61746-2:2011Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2. daļa: OTDR daudzmodu šķiedrām (IEC 61746-2:2010)Standarts spēkā
59068EN 61746-1:2011/AC:2014Calibration of optical time-domain reflectometers (OTDR) - Part 1: OTDR for single-mode fibresIzstrādē
59068LVS EN 61746-1:2011/AC:2015Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 1.daļa: OTDR vienmodu šķiedrāmStandarts spēkā
59069LVS EN 61746-2:2011/AC:2015Laikatkarīgo optisko reflektometru (OTDR) kalibrēšana. 2.daļa: OTDR daudzmodu šķiedrāmStandarts spēkā
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 76 ieraksta(-iem).