CLC/SR 86
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 60111 | LVS EN 62129-1:2016 | Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 1.daļa: Optiskā spektra analizatori (IEC 62129-1:2016) | Standarts spēkā |
| 43560 | LVS EN 62129:2006 | Optisko spektra analizatoru kalibrēšana | Atcelts |
| 44695 | LVS EN 62129:2006 /AC:2007 | Optisko spektra analizatoru kalibrēšana | Atcelts |
| 54553 | LVS EN 62129-2:2011 | Viļņa garuma/optiskās frekvences mērinstrumentu kalibrēšana. 2. daļa: Uz Maikelsona interferometra bāzēti mērītāji atsevišķiem viļņa garumiem (IEC 62129-2:2011) | Standarts spēkā |
| 55702 | LVS EN 62496-1:2009 | Optiskās shēmplates. 1. daļa: Vispārīgi (IEC 62496-1:2008) | Standarts spēkā |
| 51383 | LVS EN 62496-2-1:2012 | Optiskās shēmplates. Mērījumi. 2-1. daļa: Optiskais vājinājums un izolācija (IEC 62496-2-1:2011) | Standarts spēkā |
| 62742 | LVS EN 62496-2:2017 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2.daļa: Optisko shēmplašu optisko raksturlielumu mērīšanas nosacījumu noteikšanas vispārīgie norādījumi (IEC 62496-2:2017) | Standarts spēkā |
| 52524 | LVS EN 62496-2-2:2011 | Optiskās shēmplates. Mērījumi. 2-2. daļa: Optisko shēmplašu izmēri (IEC 62496-2-2:2011) | Standarts spēkā |
| 56620 | LVS EN 62496-2-4:2013 | Optiskās shēmplates. Testēšanas un mērīšanas pamatprocedūras. 2-4. daļa: Optiskās pārvades tests optiskajām shēmplatēm bez ieejas/izejas šķiedrām (IEC 62496-2-4:2013) | Standarts spēkā |
| 49748 | LVS EN 62496-3-1:2010 | Optiskās shēmplates. Veiktspējas standarts. 3-1. daļa: Elastīgas optiskās shēmplates ar nesavienotām optiskajām stikla šķiedrām (IEC 62496-3-1:2009) | Standarts spēkā |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 76 ieraksta(-iem).