Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
52524EN 62496-2-2:2011Cartes à circuits optiques - Partie 2-2: Mesures - Dimensions des cartes à circuits optiquesIzstrādē
52524LVS EN 62496-2-2:2011Optiskās shēmplates. Mērījumi. 2-2. daļa: Optisko shēmplašu izmēri (IEC 62496-2-2:2011)Standarts spēkā
51742EN 61744:2001Kalibrierung von Prüf-Aufbauten zur Bestimmung der chromatischen DispersionAtcelts
51742LVS EN 61744:2002Optisko šķiedru hromatiskās dispersijas testa iekārtu kalibrēšanaAtcelts
51553LVS EN 62496-4:2011Optiskās shēmplates. Saskarnes standarti. 4. daļa: Nostādnes un norādījumi (IEC 62496-4:2011)Standarts spēkā
51553EN 62496-4:2011Optische Leiterplatten - Teil 4: Schnittstellennormen - Allgemeines und LeitfadenIzstrādē
51383LVS EN 62496-2-1:2012Optiskās shēmplates. Mērījumi. 2-1. daļa: Optiskais vājinājums un izolācija (IEC 62496-2-1:2011)Standarts spēkā
51383EN 62496-2-1:2011Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und IsolationIzstrādē
51251LVS EN 61746:2005Optisko laika funkcijas reflektometru (OTDR) kalibrēšanaAtcelts
51251EN 61746:2005Kalibirerung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR)Atcelts
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 76 ieraksta(-iem).