Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
52694LVS EN 61967-4:2002 /A1:2006Integrētās shēmas. Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi. 4.daļa: Konduktīvu emisiju mērīšana. 1 oma/ 150 omu tiešā savienojuma metodeAtcelts
56240LVS EN 62132-3:2008Integrētās shēmas. Elektromagnētiskās traucējumnoturības mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 3. daļa: Metode ar strāvas pievadīšanu (BCI)Atcelts
54607EN 190100:1993Sectional Specification: Digital monolithic integrated circuitsAtcelts
53672EN 165000-1:1996Circuits intégrés à couches et hybrides - Partie 1 : Spécification générique - Procédure d'agrément de savoir-faireAtcelts
58235LVS ENV 190000-6:1993Fachgrundspezifikation: Monolithische integrierte Schaltungen - Anerkennungsverfahren und QualitätslenkungAtcelts
54004LVS EN 61967-4:2002 /A1:2006 /AC:2007Integrētās shēmas. Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi. 4. daļa: Konduktīvu emisiju mērīšana. 1 oma/150 omu tiešā savienojuma metodeAtcelts
54494LVS EN 61967-8:2012Integrētās shēmas. Elektromagnētisko emisiju mērīšana. 2. daļa: Starojumemisiju mērīšana. Integrēto shēmu slokšņlīnijas metode (IEC 61967-8:2011)Atcelts
46944EN 190110:1994Vordruck für Bauartspezifikation: Integrierte Mikroprozessor-SchaltungenAtcelts
50854LVS EN 190115Blank Detail Specification: Digital gate array integrated circuitsAtcelts
51012EN 62132-1:2006Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitionsAtcelts
Attēlo no 91. līdz 100. no pavisam 127 ieraksta(-iem).