Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
46687EN 61967-4:2002Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohmAtcelts
48617EN 61967-2:2005Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell methodStandarts spēkā
44641EN 61967-1:2002Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitionsAtcelts
51075EN 61964:1999Integrated circuits - Memory devices pin configurationsStandarts spēkā
53344EN 61943:1999Circuits intégrés - Guide d'application pour l'agrément des lignes de fabricationStandarts spēkā
52833EN 190116:1993Familienspezifikation: AC MOS digitale integrierte SchaltungenAtcelts
50854EN 190115Blank Detail Specification: Digital gate array integrated circuitsAtcelts
51697EN 190114Blank Detail Specification: Programmable logic arrays (PLA)Izstrādē
41989EN 190112Blank Detail Specification: MOS read/write dynamic memories silicon monolithic circuitsIzstrādē
48802EN 190111Blank Detail Specification: MOS read/write static memories silicon monolithic circuitsIzstrādē
Attēlo no 101. līdz 110. no pavisam 127 ieraksta(-iem).