Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
56240EN 62132-3:2007Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) methodAtcelts
50854EN 190115Blank Detail Specification: Digital gate array integrated circuitsAtcelts
53672EN 165000-1:1996Circuits intégrés à couches et hybrides - Partie 1 : Spécification générique - Procédure d'agrément de savoir-faireAtcelts
48017EN 190107:1994Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL FAST - Sériese 54F, 74FAtcelts
48005EN 190108:1994Familienspezifikation: Digitale integrierte TTL advanced Schottky-Schaltungen - Serien 54AS, 74ASAtcelts
54004LVS EN 61967-4:2002 /A1:2006 /AC:2007Integrētās shēmas. Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi. 4. daļa: Konduktīvu emisiju mērīšana. 1 oma/150 omu tiešā savienojuma metodeAtcelts
44641LVS EN 61967-1:2002Integrētās shēmas - Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi - 1.daļa: Pamatnosacījumi un definīcijasAtcelts
51012LVS EN 62132-1:2006Integrētās shēmas. Noturības pret elektromagnētiskajiem traucējumiem mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 1.daļa: Vispārīgie noteikumi un definīcijasAtcelts
46687EN 61967-4:2002Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohmAtcelts
42841LVS EN 62132-1:2006 /AC:2007Integrētās shēmas. Noturības pret elektromagnētiskajiem traucējumiem mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 1.daļa: Vispārīgie noteikumi un definīcijasAtcelts
Attēlo no 101. līdz 110. no pavisam 127 ieraksta(-iem).