Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
58235LVS ENV 190000-6:1993Fachgrundspezifikation: Monolithische integrierte Schaltungen - Anerkennungsverfahren und QualitätslenkungAtcelts
57426LVS EN 62433-2:2010Integrēto shēmu EMS modelēšana. 2. daļa: Integrēto shēmu modeļi elektromagnētisko traucējumu iedarbības modelēšanai. Konduktīvās emisijas modelēšana (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2008)Atcelts
54004LVS EN 61967-4:2002 /A1:2006 /AC:2007Integrētās shēmas. Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi. 4. daļa: Konduktīvu emisiju mērīšana. 1 oma/150 omu tiešā savienojuma metodeAtcelts
44641LVS EN 61967-1:2002Integrētās shēmas - Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi - 1.daļa: Pamatnosacījumi un definīcijasAtcelts
51012LVS EN 62132-1:2006Integrētās shēmas. Noturības pret elektromagnētiskajiem traucējumiem mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 1.daļa: Vispārīgie noteikumi un definīcijasAtcelts
80329FprEN IEC 62132-8:2025Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-StreifenleiterverfahrenIzstrādē
48802EN 190111Blank Detail Specification: MOS read/write static memories silicon monolithic circuitsIzstrādē
75249EN IEC 62228-5:2021/prA1:2022Circuits intégrés - Evaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 5: Emetteurs-récepteurs ethernetIzstrādē
46921EN 190105Blank Detail Specification: Fusible link programmable bipolar read-only memories, silicon monolithic integrated circuitsIzstrādē
51697EN 190114Blank Detail Specification: Programmable logic arrays (PLA)Izstrādē
Attēlo no 111. līdz 120. no pavisam 127 ieraksta(-iem).