Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
60855EN 62433-2:2017EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE)Standarts spēkā
60115EN 62433-4:2016EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI)Standarts spēkā
60115LVS EN 62433-4:2017Integrēto shēmu EMS modelēšana. 4.daļa: Integrēto shēmu modeļi elektromagnētisko traucējumu iedarbības modelēšanai. Konduktīvās traucējumnoturības modelēšana (ICIM-CI) (IEC 62433-4:2016)Standarts spēkā
58235ENV 190000-6:1993Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques - Procédure pour l'agrément et la gestion de la qualitéAtcelts
58235LVS ENV 190000-6:1993Fachgrundspezifikation: Monolithische integrierte Schaltungen - Anerkennungsverfahren und QualitätslenkungAtcelts
57960LVS EN 62132-8:2013Integrētās shēmas. Elektromagnētiskās traucējumnoturības mērīšana. 8. daļa: Radiatīvās traucējumnoturības mērīšana. Lentveida IC metode (IEC 62132-8:2012)Standarts spēkā
57960EN 62132-8:2012Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégréStandarts spēkā
57426LVS EN 62433-2:2010Integrēto shēmu EMS modelēšana. 2. daļa: Integrēto shēmu modeļi elektromagnētisko traucējumu iedarbības modelēšanai. Konduktīvās emisijas modelēšana (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2008)Atcelts
57426EN 62433-2:2010Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)Atcelts
56891EN 165000-2:1996Circuits intégrés à couches et hybrides - Partie 2 : Contrôle visuel interne et essais spéciauxAtcelts
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 127 ieraksta(-iem).