Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
50769LVS EN 61967-6:2002 /A1:2008Integrētās shēmas - Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi - 6.daļa: Konduktīvā starojuma mērīšana - Magnētiskās zondes metodeStandarts spēkā
65254LVS EN IEC 61967-1:2019Integrētās shēmas. Elektromagnētisko emisiju mērījumi. 1.daļa: Vispārīgie nosacījumi un definīcijas (IEC 61967-1:2018)Standarts spēkā
60115LVS EN 62433-4:2017Integrēto shēmu EMS modelēšana. 4.daļa: Integrēto shēmu modeļi elektromagnētisko traucējumu iedarbības modelēšanai. Konduktīvās traucējumnoturības modelēšana (ICIM-CI) (IEC 62433-4:2016)Standarts spēkā
64813LVS EN IEC 62433-1:2019Integrēto shēmu EMS modelēšana. 1.daļa: Modelēšanas vispārīgās pamatnostādnes (IEC 62433-1:2019)Standarts spēkā
80696prEN IEC 62228-7:2025Circuits intégrés - évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 7: émetteurs-récepteurs CXPIAptauja slēgta
52183EN 163101:1991Vordruck für Bauartspezifikation: Integrierte Hybrid- und SchichtschaltungenAtcelts
56240LVS EN 62132-3:2008Integrētās shēmas. Elektromagnētiskās traucējumnoturības mērīšana 150 kHz līdz 1 GHz diapazonā. 3. daļa: Metode ar strāvas pievadīšanu (BCI)Atcelts
50720EN 190102:1994Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky - Séries 54S, 64S, 74S, 84SAtcelts
53672EN 165000-1:1996Circuits intégrés à couches et hybrides - Partie 1 : Spécification générique - Procédure d'agrément de savoir-faireAtcelts
58235ENV 190000-6:1993Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques - Procédure pour l'agrément et la gestion de la qualitéAtcelts
Attēlo no 71. līdz 80. no pavisam 127 ieraksta(-iem).