CEN/TC 121
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 38724 | LVS EN ISO 15626:2013 | Metināto šuvju nesagraujošā testēšana. Lidlaika difrakcijas tehnika (TOFD). Pieņemšanas līmeņi (ISO 15626:2011) | Atcelts |
| 65772 | LVS EN ISO 15626:2018 | Metināto šuvju nesagraujošā testēšana. Lidlaika difrakcijas tehnika (TOFD). Pieņemšanas līmeņi (ISO 15626:2018) | Standarts spēkā |
| 3439 | LVS EN ISO 15653:2010 | Metāliskie materiāli. Kvazistatiskās lūzumpretestības testēšanas metodes metinājumu šuvēm (ISO 15653:2010) | Atcelts |
| 62286 | LVS EN ISO 15653:2018 | Metāliskie materiāli. Testa metode metinājumu šuvju kvazistatiskās plīšanas stigrības noteikšanai (ISO 15653:2018) | Standarts spēkā |
| 29281 | LVS EN ISO 15792-1:2008 | Metināšanas palīgmateriāli. Pārbaudes metodes. 1. daļa: Uzmetinātā metāla (tērauda, niķeļa un niķeļa sakausējuma) paraugu testēšanas metodes | Atcelts |
| 35693 | LVS EN ISO 15792-1:2008 /A1:2012 | Metināšanas palīgmateriāli. Testēšanas metodes. 1. daļa: Testēšanas metodes uzmetinātā metāla paraugiem no tērauda, niķeļa un niķeļa sakausējuma (ISO 15792-1:2000/Amd 1:2011) | Atcelts |
| 70292 | LVS EN ISO 15792-1:2020 | Metināšanas palīgmateriāli. Testa metodes. 1.daļa: Tērauda, niķeļa un niķeļa sakausējuma uzmetināto metālu pārbaudes paraugu sagatavošana (ISO 15792-1:2020) | Standarts spēkā |
| 29282 | LVS EN ISO 15792-2:2008 | Metināšanas palīgmateriāli. Pārbaudes metodes. 2. daļa: Tērauda viengājiena un divgājienu metināšanas šuvju paraugu gatavošana | Atcelts |
| 70342 | LVS EN ISO 15792-2:2020 | Metināšanas palīgmateriāli. Testa metodes. 2.daļa: Tērauda viena gājiena un divu gājienu metināšanas šuvju pārbaudes paraugu sagatavošana (ISO 15792-2:2020) | Standarts spēkā |
| 29283 | LVS EN ISO 15792-3:2008 | Metināšanas palīgmateriāli. Pārbaudes metodes. 3. daļa: Metināšanas palīgmateriālu klasificēšanas testēšana attiecībā uz spēju izvietoties un iespiesties visā stūra metinājuma saknē | Atcelts |
Attēlo no 1291. līdz 1300. no pavisam 1765 ieraksta(-iem).