Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
31933LVS EN ISO 12179:2002 /AC:2009Ģeometrisko produktu specifikācijas. Virsmas struktūra. Profila metode. Kontaktmērinstrumentu (taustu) kalibrēšana (ISO 12179:200/Cor.1:2003)Atcelts
25779LVS CEN ISO/TS 12780-1:2008Izstrādājumu ģeometriskās specifikācijas (GPS). Taisnums. 1. daļa: Taisnuma terminu vārdnīca un parametriAtcelts
25776LVS CEN ISO/TS 12180-2:2008Izstrādājumu ģeometriskās specifikācijas (GPS). Cilindriskums. 2. daļa: Specificēšanas operatoriAtcelts
25783LVS CEN ISO/TS 14253-3:2008Izstrādājumu ģeometriskās specifikācijas (GPS). Sagatavju un mēriekārtu pārbaudīšana ar mērīšanu. 3. daļa: Vadlīnijas, kā vienoties par atzinumiem attiecībā uz mērījumu nenoteiktībuAtcelts
14377LVS EN ISO 14660-1:2002Ģeometrisko produktu specifikācijas - Ģeometriskās īpašības - 1.daļa: Vispārīgie termini un definīcijasAtcelts
36640LVS EN ISO 1101:2013Izstrādājumu ģeometriskās specifikācijas (GPS). Ģeometriskās pielaides. Formas, orientācijas, vietas un ekscentriskuma pielaides (ISO 1101:2012, iekaitot Cor 1:2013)Atcelts
14386LVS EN ISO 3274:2002Ģeometrisko produktu specifikācijas - Virsmas struktūra - Profila metode - Kontaktmērinstrumentu (taustu) nominālais raksturojumsAtcelts
40982EN ISO 14405-1:2016Izstrādājumu ģeometriskās specifikācijas (GPS). Dimensionālās pielaides. 1. daļa: Lineārie izmēri (ISO 14405-1:2016)Atcelts
30381LVS EN ISO 25178-601:2010Ģeometrisko programmproduktu specifikācijas (GPS). Virsmas īpašības: laukums. 601. daļa: Kontaktmērinstrumentu (taustu) nominālais raksturojums (ISO 25178-6:2010)Atcelts
30383LVS EN ISO 25178-603:2014Izstrādājumu ģeometriskās specifikācijas (GPS). Virsmas īpašības: Laukums. 603. daļa: Bezkontakta instrumentu (fāžu nobīdes interferometriskā mikroskopija) nominālie raksturlielumi (ISO 25178-603:2013)Atcelts
Attēlo no 231. līdz 240. no pavisam 467 ieraksta(-iem).