Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
17530LVS EN 2591-213:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 213.daļa: Ekranēšanas efektivitāte no 100 MHz līdz 1 GHzStandarts spēkā
25330LVS EN 2591-212:2006Aviācijas un kosmosa sērija. Elektrisko un optisko savienojumu elementi. Testēšanas metodes. 212.daļa: Virsmas pārvadpretestībaStandarts spēkā
21076LVS EN 2591-211:2002Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 211.daļa: KapacitāteStandarts spēkā
17529LVS EN 2591-210:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 210.daļa: Elektriskā pārslodzeStandarts spēkā
17492LVS EN 2591-209:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 209.daļa: Nominālās strāvas temperatūras izraisīta slodzes samazinājuma noteikšanaStandarts spēkā
17491LVS EN 2591-208:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 208.daļa: Nominālās strāvas izraisīta temperatūras celšanāsStandarts spēkā
17490LVS EN 2591-207:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 207.daļa: Sprieguma pakāpes testsStandarts spēkā
17489LVS EN 2591-206:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 206.daļa: Izolācijas pretestības mērīšanaStandarts spēkā
17488LVS EN 2591-205:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 205.daļa: Apvalka (karkasa) elektropretestībaStandarts spēkā
17487LVS EN 2591-204:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 204.daļa: Kontaktu nepārtrauktības pārrāvums mikrosekunžu diapazonāStandarts spēkā
Attēlo no 3291. līdz 3300. no pavisam 7155 ieraksta(-iem).