Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
16160LVS EN 2591:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - VispārīgāsStandarts spēkā
16620LVS EN 2591-201:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 201.daļa: Kontaktu pretestība - Zemākais līmenisStandarts spēkā
17485LVS EN 2591-202:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 202.daļa: Kontaktu pretestība pie projektētās strāvasStandarts spēkā
17486LVS EN 2591-203:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 203.daļa: Elektronepārtrauktība pie mikrovoltu līmeņaStandarts spēkā
17487LVS EN 2591-204:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 204.daļa: Kontaktu nepārtrauktības pārrāvums mikrosekunžu diapazonāStandarts spēkā
17488LVS EN 2591-205:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 205.daļa: Apvalka (karkasa) elektropretestībaStandarts spēkā
17489LVS EN 2591-206:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 206.daļa: Izolācijas pretestības mērīšanaStandarts spēkā
17490LVS EN 2591-207:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektrotehnisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 207.daļa: Sprieguma pakāpes testsStandarts spēkā
17491LVS EN 2591-208:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 208.daļa: Nominālās strāvas izraisīta temperatūras celšanāsStandarts spēkā
17492LVS EN 2591-209:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 209.daļa: Nominālās strāvas temperatūras izraisīta slodzes samazinājuma noteikšanaStandarts spēkā
Attēlo no 3781. līdz 3790. no pavisam 7068 ieraksta(-iem).