Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
17536LVS EN 2591-306:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 306.daļa: Pelējuma vairošanāsStandarts spēkā
17558LVS EN 2591-405:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 405.daļa: Ass slodzeStandarts spēkā
17483LVS EN 2591-101:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 101.daļa: Vizuālā pārbaudeStandarts spēkā
17530LVS EN 2591-213:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 213.daļa: Ekranēšanas efektivitāte no 100 MHz līdz 1 GHzStandarts spēkā
17492LVS EN 2591-209:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 209.daļa: Nominālās strāvas temperatūras izraisīta slodzes samazinājuma noteikšanaStandarts spēkā
17529LVS EN 2591-210:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 210.daļa: Elektriskā pārslodzeStandarts spēkā
17539LVS EN 2591-309:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 309.daļa: Sausais karstumsStandarts spēkā
17542LVS EN 2591-312:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Elektronisko un optisko slēgumu elementi - Testēšanas metodes - 312.daļa: Hermētiskuma pārbaudeStandarts spēkā
15677LVS EN 2070-5:2000Aviācijas un kosmosa sērija - Alumīnijs un alumīnija sakausējumi kalšanai - Tehniskā specifikācija - 5.daļa: Spiedienizturīga cauruleStandarts spēkā
31095LVS EN 3373-014:2009Aviācijas un kosmosa sērija. Kabeļkurpes un sadursavienotāji elektrovadu spiedsavienošanai. 014. daļa: In-line splices, insulated and sealed, for crimping on copper conductors, temperature up to 200 °C. Product standardStandarts spēkā
Attēlo no 471. līdz 480. no pavisam 7235 ieraksta(-iem).