ASD-STAN
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 21076 | EN 2591-211:2002 | Série aérospatiale - Organes de connexion électrique et optique - Méthodes d'essais - Partie 211: Capacité | Izstrādē |
| 17529 | EN 2591-210:1998 | Série aérospatiale - Organes de connexion électrique et optique - Méthodes d'essais - Partie 210: Surcharge électrique | Izstrādē |
| 17492 | EN 2591-209:1996 | Aerospace series - Elements of electrical and optical connection - Test methods - Part B9: Current temperature derating | Izstrādē |
| 17491 | EN 2591-208:1996 | Série aérospatiale - Organes de connexion électrique et optique - Méthodes d'essais - Partie B8: Echauffement sous courant nominal | Izstrādē |
| 17490 | EN 2591-207:1996 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil B7: Prüfung der Spannfestigkeit | Izstrādē |
| 17489 | EN 2591-206:1996 | Série aérospatiale - Organes de connexion électrique et optique - Méthodes d'essais - Partie B6: Mesure de la résistance d'isolement | Izstrādē |
| 17488 | EN 2591-205:1996 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil B5: Kontinuierlicher Stromdurchgang des Gehäuses | Izstrādē |
| 17487 | EN 2591-204:1996 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil B4: Kontaktunterbrechung im Mikrosekundenbereich | Izstrādē |
| 17486 | EN 2591-203:1996 | Luft- und Raumfahrt - Elektrische und optische Verbindungselemente - Prüfverfahren - Teil B3: Kontinuierlicher Stromdurchgang im Mikrovoltbereich | Izstrādē |
| 17485 | EN 2591-202:1996 | Aerospace series - Elements of electrical and optical connection - Test methods - Part B2: Contact resistance at rated current | Izstrādē |
Attēlo no 6701. līdz 6710. no pavisam 7235 ieraksta(-iem).