ISO/IEC JTC 1/SC 17
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 37990 | ISO/IEC 7816-9:2004 | Cartes d'identification — Cartes à circuit intégré — Partie 9: Commandes pour la gestion des cartes | Atcelts |
| 1596 | ISO/IEC 7811-6:1996 | Cartes d'identification — Technique d'enregistrement — Partie 6: Bandeau magnétique — Haute coercitivité | Atcelts |
| 34974 | ISO/IEC 7816-3:1997/Amd 1:2002 | Information technology — Identification cards — Integrated circuit(s) cards with contacts — Part 3: Electronic signals and transmission protocols — Amendment 1: Electrical characteristics and class indication for integrated circuit(s) cards operating at 5 V, 3 V and 1,8 V | Atcelts |
| 68090 | ISO/IEC 10373-6:2016/Amd 3:2018 | Cartes d'identification — Méthodes d'essai — Partie 6: Cartes de proximité — Amendement 3: Effet de charge PICC | Atcelts |
| 77182 | ISO/IEC 17839-2:2015/Amd 1:2021 | Technologies de l'information — Système biométrique sur carte — Partie 2: Caractéristiques physiques — Amendement 1: Spécifications supplémentaires pour les capteurs d’empreintes digitales | Atcelts |
| 14734 | ISO/IEC 7816-3:1989 | Cartes d'identification — Cartes à circuit(s) intégré(s) à contacts — Partie 3: Signaux électroniques et protocoles de transmission | Atcelts |
| 60116 | ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 4:2012 | Cartes d'identification — Méthodes d'essai — Partie 6: Cartes de proximité — Amendement 4: Débits binaires de fc/8, fc/4 et fc/2 et tailles de trame allant de 512 à 4096 octets | Atcelts |
| 54089 | ISO/IEC 7816-1:2011 | Identification cards — Integrated circuit cards — Part 1: Cards with contacts — Physical characteristics | Atcelts |
| 58023 | ISO/IEC 14443-2:2010/Amd 3:2012 | Cartes d'identification — Cartes à circuit(s) intégré(s) sans contact — Cartes de proximité — Partie 2: Interface radiofréquence et des signaux de communication — Amendement 3: Débits binaires de fc/8, fc/4 et fc/2 | Atcelts |
| 31416 | ISO/IEC 15457-3:2002 | Cartes d'identification — Cartes flexibles fines — Partie 3: Méthodes d'essai | Atcelts |
Attēlo no 161. līdz 170. no pavisam 520 ieraksta(-iem).