CEN/CLC/TC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 20259 | EN ISO/IEC 17011:2004 | Atbilstības novērtēšana - Vispārējās prasības akreditācijas institūcijām, kuras akreditē atbilstības novērtēšanas institūcijas (ISO/IEC 17011:2004) | Atcelts |
| 20245 | EN 45014:1989 | Allgemeine Kriterien für Konformitätserklärungen von Anbietern | Atcelts |
| 20232 | LVS EN 45004:1995 | Allgemeine Kriterien für den Betrieb verschiedener Typen von Stellen, die Inspektionen durchführen | Atcelts |
| 18065 | LVS EN 45020:1991 | Allgemeine Fachausdrücke und deren Definitionen betreffend Normung und damit zusammenhängende Tätigkeiten | Atcelts |
| 20258 | LVS EN ISO/IEC 17021:2006 | Konformitätsbewertung - Anforderungen an Stellen, die Managementsysteme auditieren und zertifizieren (ISO/IEC 17021:2006) | Atcelts |
| 18398 | LVS EN 29004:1987 | Qualitätsmanagement und Elemente eines Qualitätssicherungssystems - Leitfaden | Atcelts |
| 18165 | LVS EN 29318-3:1993 | Informationstechnik - Intelligente Peripherie-Schnittstelle - Teil 3: Allgemeiner Befehlssatz für magnetische und optische Plattenlaufwerke (ISO/IEC 9318-3:1990) | Atcelts |
| 18162 | LVS EN ISO/IEC 9314-3:1995 | Informationsverarbeitungssysteme - Verteilte Datenschnittstelle mit Lichtwellenleitern (FDDI) - Teil 3: Mediumspezifische Festlegungen für die Bitübertragungsschicht (PMD) (ISO/IEC 9314-3:1990) | Atcelts |
| 18164 | LVS EN 29318-2:1993 | Informationstechnik - Intelligente Peripherie-Schnittstelle - Teil 2: Gerätespezifischer Befehlssatz für Magnetplattenlaufwerke (ISO/IEC 9318-2:1990) | Atcelts |
| 20238 | LVS EN ISO/IEC 17025:2000 | Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien (ISO/IEC 17025:1999) | Atcelts |
Attēlo no 101. līdz 110. no pavisam 145 ieraksta(-iem).