CEN/CLC/TC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 20251 | EN ISO/IEC 17024:2003 | Atbilstības novērtēšana - Vispārīgās prasības personu sertificēšanas institūcijām (ISO/IEC 17024:2003) | Atcelts |
| 18165 | LVS EN 29318-3:1993 | Informationstechnik - Intelligente Peripherie-Schnittstelle - Teil 3: Allgemeiner Befehlssatz für magnetische und optische Plattenlaufwerke (ISO/IEC 9318-3:1990) | Atcelts |
| 20239 | LVS EN 45001:1989 | Allgemeine Kriterien zum Betreiben von Prüflaboratorien | Atcelts |
| 18166 | LVS EN 29318-4:1993 | Informationstechnik - Intelligente Peripherie-Schnittstelle - Teil 4: Allgemeiner Befehlssatz für magnetische Bandspeicher (ISO/IEC 9318-4:1990) | Atcelts |
| 20241 | LVS EN 45003:1989 | Allgemeine Kriterien für Stellen, die Prüflaboratorien akkreditieren | Atcelts |
| 61874 | LVS CEN/CLC ISO/IEC/TS 17021-3:2016 | Atbilstības novērtēšana. Prasības institūcijām, kas nodrošina pārvaldības sistēmu auditu un sertifikāciju. 3.daļa: Kompetences prasības kvalitātes pārvaldības sistēmu auditēšanai un sertificēšanai (ISO/IEC/TS 17021-3:2013) | Atcelts |
| 31718 | LVS EN ISO/IEC 17043:2010 | Atbilstības novērtēšana. Vispārīgās prasības kvalifikācijas pārbaudei (ISO/IEC 17043:2010) | Atcelts |
| 18379 | LVS EN 29002:1987 | Qualitätssicherungssysteme - Modell zur Darlegung der Qualitätssicherung in Produktion und Montage | Atcelts |
| 31708 | EN ISO/IEC 17030:2009 | Atbilstības novērtēšana. Vispārīgās prasības trešās puses atbilstības zīmēm (ISO/IEC 17030:2003) | Atcelts |
| 20240 | EN 45002:1989 | General criteria for the assessment of testing laboratories | Atcelts |
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 145 ieraksta(-iem).