Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
80307ISO 4765:2022Titre manqueStandarts spēkā
81635ISO 4892-2:2013/Amd 1:2021Plastics — Methods of exposure to laboratory light sources — Part 2: Xenon-arc lamps — Amendment 1: Classification of daylight filtersStandarts spēkā
80308ISO/TS 4767:2024Plastics — Method of exposure to electrodeless plasma radiation sourcesStandarts spēkā
Attēlo no 1. līdz 3. no pavisam 3 ieraksta(-iem).