ISO/TC 69/SC 5
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 37429 | ISO 13448-1:2005 | Règles d'échantillonnage pour acceptation fondées sur le principe d'attribution de priorités (APP) — Partie 1: Lignes directrices relatives à l'approche APP | Atcelts |
| 34640 | ISO 3951-1:2005 | Règles d'échantillonnage pour les contrôles par mesures — Partie 1: Spécifications pour les plans d'échantillonnage simples indexés d'après la limite d'acceptation de qualité (LAQ) pour le contrôle lot par lot pour une caractéristique de qualité unique et une LAQ unique | Atcelts |
| 39293 | ISO 3951-2:2006 | Sampling procedures for inspection by variables — Part 2: General specification for single sampling plans indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection of independent quality characteristics | Atcelts |
| 9602 | ISO 3951:1989 | Règles et tables d'échantillonnage pour les contrôles par mesures des pourcentages de non conformes | Atcelts |
| 38684 | ISO 18414:2006 | Procédures d'échantillonnage par attributs pour acceptation — Système d'échantillonnage de tolérance zéro-défaut basé sur le principe de crédit pour le contrôle de la qualité à la sortie | Atcelts |
| 37430 | ISO 13448-2:2004 | Règles d'échantillonnage pour acceptation fondées sur le principe d'attribution de priorités (APP) — Partie 2: Plans d'échantillonnage simple coordonnés pour l'échantillonnage pour acceptation par attributs | Atcelts |
| 7867 | ISO 2859-2:1985 | Règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs — Partie 2: Plans d'échantillonnage pour les contrôles de lots isolés, indexés d'après la qualité limite (QL) | Atcelts |
| 15803 | ISO/TR 8550:1994 | Guide pour la sélection d'un système, d'un programme ou d'un plan d'échantillonnage pour acceptation pour le contrôle d'unités discrètes en lots | Atcelts |
| 7865 | ISO 2859-0:1995 | Règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs — Partie 0: Introduction au système d'échantillonnage par attributs de l'ISO 2859 | Atcelts |
| 39915 | ISO 8422:2006 | Sequential sampling plans for inspection by attributes | Atcelts |
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 76 ieraksta(-iem).