ISO/TC 171/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 1885 | ISO 12651:1999 | Imagerie électronique — Vocabulaire | Atcelts |
| 1723 | ISO/DIS 11928-1.2 | Micrographie — Contrôle de la qualité des imprimantes COM graphiques — Partie 1: Caractéristiques des cibles de contrôle | Izstrādē |
Attēlo no 101. līdz 102. no pavisam 102 ieraksta(-iem).