ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 42013 | ISO/WD 14999-5 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 5: Test methods for the determination of surface form or wavefront of optical elements and optical systems by interferometry | Izstrādē |
| 42012 | ISO 10110-7:2008 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Tolérances d'imperfection de surface | Atcelts |
| 42012 | ISO 10110-7:2008 | Optika un optiskās ierīces. Rasējumu sagatavošana optikas elementiem un sistēmām. 7.daļa: Virsmas defektu pielaides | Atcelts |
| 40749 | ISO 9022-7:2005 | Optique et photonique — Méthodes d'essais environnementales — Partie 7: Résistance au ruissellement ou à la pluie | Atcelts |
| 40748 | ISO 15529:2007 | Optique et photonique — Fonction de transfert optique — Principes de mesure de la fonction de transfert de modulation (MTF) des systèmes de formation d'image échantillonnés | Atcelts |
| 40747 | ISO 10109-8:2005 | Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 8: Exigences d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes | Atcelts |
| 40746 | ISO 10109-6:2005 | Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 6: Exigences d'essai pour les instruments optiques médicaux | Atcelts |
| 40745 | ISO 10109-1:2005 | Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 1: Vue d'ensemble générale, termes et définitions, zones climatiques et leurs paramètres | Atcelts |
| 40738 | ISO 9039:1994/Cor 1:2004 | Optics and optical instruments — Quality evaluation of optical systems — Determination of distortion — Technical Corrigendum 1 | Atcelts |
| 39934 | ISO/TR 14999-3:2005 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 3: Calibration and validation of interferometric test equipment and measurements | Standarts spēkā |
Attēlo no 91. līdz 100. no pavisam 210 ieraksta(-iem).