ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 35991 | ISO 10110-1:2006 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 1: General | Atcelts |
| 35992 | ISO/WD 10110-2 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 2: Imperfections des matériaux — Biréfringence sous contrainte | Izstrādē |
| 35993 | ISO/WD 10110-3 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 3: Imperfections des matériaux — Bulles et inclusions | Izstrādē |
| 35994 | ISO/CD 10110-6 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage | Izstrādē |
| 37991 | ISO/WD 10110-4 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 4: Material imperfections — Inhomogeneity and striae | Izstrādē |
| 37992 | ISO/WD 10110-8 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 8: Surface texture | Izstrādē |
| 37993 | ISO 10110-12:2007 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques | Atcelts |
| 37993 | ISO 10110-12:2007 | Optika un optiskās ierīces. Rasējumu sagatavošana optiskiem elementiem un sistēmām. 12. daļa: Asfēriskas virsmas | Atcelts |
| 39932 | ISO/TR 14999-1:2005 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales | Standarts spēkā |
| 39933 | ISO/TR 14999-2:2005 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 2: Measurement and evaluation techniques | Atcelts |
Attēlo no 101. līdz 110. no pavisam 208 ieraksta(-iem).