ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 57572 | ISO/PWI 10110-3 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 3: Material imperfections — Bubbles and inclusions | Izstrādē |
| 57573 | ISO/PWI 10110-4 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 4: Imperfections des matériaux — Hétérogénéités et stries | Izstrādē |
| 57574 | ISO 10110-1:2019 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 1: General | Standarts spēkā |
| 57575 | ISO/NP 9022-23 | Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 23: Essais combinés basse pression et froid, température ambiante et chaleur sèche ou humide | Izstrādē |
| 59309 | ISO 10110-12:2007/Amd 1:2013 | Optika un optiskās ierīces. Rasējumu sagatavošana optiskiem elementiem un sistēmām. 12. daļa: Asfēriskas virsmas. 1. grozījums | Atcelts |
| 59309 | ISO 10110-12:2007/Amd 1:2013 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques — Amendement 1 | Atcelts |
| 60265 | ISO 25297-1:2012 | Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 1: Modèle de données NODIF | Standarts spēkā |
| 60467 | ISO 10110-19:2015 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 19: General description of surfaces and components | Standarts spēkā |
| 60683 | ISO/PWI 10110-18 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 18: Material imperfections | Izstrādē |
| 63087 | ISO/PWI 18631 | Titre manque | Izstrādē |
Attēlo no 151. līdz 160. no pavisam 208 ieraksta(-iem).