ISO/TC 172/SC 1
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
42362 | ISO 10110-5:2007 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 5: Surface form tolerances | Atcelts |
26910 | ISO 9022-3:1998 | Optics and optical instruments — Environmental test methods — Part 3: Mechanical stress | Atcelts |
40745 | ISO 10109-1:2005 | Optique et photonique — Exigences environnementales — Partie 1: Vue d'ensemble générale, termes et définitions, zones climatiques et leurs paramètres | Atcelts |
16571 | ISO 9022-6:1994 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 6: Poussière | Atcelts |
40738 | ISO 9039:1994/Cor 1:2004 | Optique et instruments d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Détermination de la distorsion — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
67342 | ISO 9022-3:2015 | Optics and photonics — Environmental test methods — Part 3: Mechanical stress | Atcelts |
33614 | ISO 14999-4:2007 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 4: Interpretation and evaluation of tolerances specified in ISO 10110 | Atcelts |
28140 | ISO/WD 10109-3 | Optics and optical instruments — Environmental requirements — Part 3: Test requirements for photographic instruments | Izstrādē |
21140 | ISO/WD 13717 | Interferometers — Fundamental terminology | Izstrādē |
26274 | ISO/WD 15036 | Optics and optical instruments — Angle resolved optical scatter measurements on specular or diffuse surfaces | Izstrādē |
Attēlo no 161. līdz 170. no pavisam 208 ieraksta(-iem).