ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 63087 | ISO/PWI 18631 | Titre manque | Izstrādē |
| 72648 | ISO/PWI 22132 | Titre manque | Izstrādē |
| 74935 | ISO/PWI 9022-3 | Optique et photonique Mthodes d'essais d'environnement | Izstrādē |
| 75056 | ISO/TR 14997-2:2022 | Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques — Partie 2: Visionique | Standarts spēkā |
| 39932 | ISO/TR 14999-1:2005 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales | Standarts spēkā |
| 39933 | ISO/TR 14999-2:2005 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 2: Measurement and evaluation techniques | Atcelts |
| 69952 | ISO/TR 14999-2:2019 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation | Standarts spēkā |
| 39934 | ISO/TR 14999-3:2005 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 3: Calibration and validation of interferometric test equipment and measurements | Standarts spēkā |
| 57570 | ISO/TR 16743:2013 | Optique et photonique — Capteurs de front d'onde pour caractérisation des systèmes optiques et des composants optiques | Standarts spēkā |
| 70820 | ISO/TR 21477:2017 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Surface imperfection specification and measurement systems | Standarts spēkā |
Attēlo no 181. līdz 190. no pavisam 208 ieraksta(-iem).