ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 44701 | ISO/WD 14999-5 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 5: Méthodes d'essai pour la détermination de la forme de suface ou du front d'onde des composants et systèmes optiques par moyen interférométrique | Izstrādē |
| 91419 | ISO/PWI 10110-1 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 1: General | Izstrādē |
| 57573 | ISO/PWI 10110-4 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 4: Imperfections des matériaux — Hétérogénéités et stries | Izstrādē |
| 91194 | ISO/DIS 10110-9 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 9: Traitement de surface et revêtement | Izstrādē |
| 91195 | ISO/PWI 10110-18 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 18: Biréfringence sous contrainte, bulles et inclusions, homogénéité, et stries | Izstrādē |
| 43742 | ISO/NP 9022-22 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 22: | Izstrādē |
| 72648 | ISO/PWI 22132 | Titre manque | Izstrādē |
| 35992 | ISO/WD 10110-2 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 2: Imperfections des matériaux — Biréfringence sous contrainte | Izstrādē |
| 42838 | ISO/CD 25297 | Optique et photonique — Normes fondamentales — Transfert éléctronique des données optiques | Izstrādē |
| 33419 | ISO/NP 10109-15 | Optique et instruments d'optique — Prescriptions d'environnement — Partie 15: Instruments optiques dans les conditions de transport | Izstrādē |
Attēlo no 181. līdz 190. no pavisam 210 ieraksta(-iem).