ISO/TC 172/SC 1
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
84354 | ISO 10110-11:2025 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 11: Non-toleranced data | Standarts spēkā |
75820 | ISO 9022-3:2015/Amd 1:2020 | Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques — Amendement 1 | Atcelts |
75056 | ISO/TR 14997-2:2022 | Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques — Partie 2: Visionique | Standarts spēkā |
74935 | ISO/PWI 9022-3 | Optique et photonique Mthodes d'essais d'environnement | Izstrādē |
74934 | ISO/NP 10110-16 | Optique et photonique -- Préparation des dessins pour les systèmes et éléments optiques | Izstrādē |
72648 | ISO/PWI 22132 | Titre manque | Izstrādē |
72599 | ISO 8478:2017 | Optique et photonique — Objectifs photographiques — Mesurage du facteur spectral de transmission ISO | Standarts spēkā |
72598 | ISO 15368:2021 | Optique et photonique — Mesurage du facteur de réflexion des surfaces planes et du facteur de transmission des éléments à plan parallèle | Standarts spēkā |
72597 | ISO 13653:2019 | Optique et photonique — Méthodes générales d'essai optique — Méthode de mesure de l'éclairement énergétique relatif dans le champ image | Standarts spēkā |
70820 | ISO/TR 21477:2017 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Surface imperfection specification and measurement systems | Standarts spēkā |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 208 ieraksta(-iem).