ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 20420 | ISO/WD 11871 | Fichiers pour transfert des données optiques | Izstrādē |
| 37992 | ISO/WD 10110-8 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 8: Surface texture | Izstrādē |
| 26274 | ISO/WD 15036 | Optics and optical instruments — Angle resolved optical scatter measurements on specular or diffuse surfaces | Izstrādē |
| 74934 | ISO/NP 10110-16 | Optique et photonique -- Préparation des dessins pour les systèmes et éléments optiques | Izstrādē |
| 42838 | ISO/CD 25297 | Optique et photonique — Normes fondamentales — Transfert éléctronique des données optiques | Izstrādē |
| 21140 | ISO/WD 13717 | Interferometers — Fundamental terminology | Izstrādē |
| 65267 | ISO/CD 10110-17 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser | Izstrādē |
| 91194 | ISO/PWI 10110-9 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 9: Surface treatment and coating | Izstrādē |
| 91195 | ISO/PWI 10110-18 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 18: Stress birefringence, bubbles and inclusions, homogeneity, and striae | Izstrādē |
| 44701 | ISO/WD 14999-5 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 5: Méthodes d'essai pour la détermination de la forme de suface ou du front d'onde des composants et systèmes optiques par moyen interférométrique | Izstrādē |
Attēlo no 191. līdz 200. no pavisam 208 ieraksta(-iem).