ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 65267 | ISO/CD 10110-17 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser | Izstrādē |
| 21140 | ISO/WD 13717 | Interferometers — Fundamental terminology | Izstrādē |
| 28135 | ISO/DIS 10110-15 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 15: Wavefront deformation tolerance for systems containing powered elements | Izstrādē |
| 93618 | ISO/CD 9022-2 | Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité | Izstrādē |
| 32867 | ISO 10110-12:1997/CD Cor 1 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques — Rectificatif technique 1 | Izstrādē |
| 57571 | ISO/PWI 10110-2 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 2: Material imperfections — Stress birefringence | Izstrādē |
| 35992 | ISO/WD 10110-2 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 2: Imperfections des matériaux — Biréfringence sous contrainte | Izstrādē |
| 72648 | ISO/PWI 22132 | Titre manque | Izstrādē |
| 13962 | ISO/CD 7300 | Photographie — Objectifs photographiques — Détermination de la distorsion de l'image | Izstrādē |
| 42013 | ISO/WD 14999-5 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 5: Test methods for the determination of surface form or wavefront of optical elements and optical systems by interferometry | Izstrādē |
Attēlo no 191. līdz 200. no pavisam 210 ieraksta(-iem).