ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 26183 | ISO/WD 14996 | Optique et instruments d'optique — Représentation schématique des éléments optiques | Izstrādē |
| 44701 | ISO/WD 14999-5 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 5: Méthodes d'essai pour la détermination de la forme de suface ou du front d'onde des composants et systèmes optiques par moyen interférométrique | Izstrādē |
| 42013 | ISO/WD 14999-5 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 5: Test methods for the determination of surface form or wavefront of optical elements and optical systems by interferometry | Izstrādē |
| 26274 | ISO/WD 15036 | Optics and optical instruments — Angle resolved optical scatter measurements on specular or diffuse surfaces | Izstrādē |
| 28137 | ISO/WD 9022-22 | Optics and optical instruments — Environmental test methods — Part 22: Biological media | Izstrādē |
| 30650 | ISO/WD TR 14999-2 | Optique et instruments d'optique — Mesure interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et évaluations techniques | Izstrādē |
| 30651 | ISO/WD TR 14999-3 | Optique et instruments d'optique — Mesure interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 3: Étalonnage et validation des équipements d'essai interférométrique | Izstrādē |
| 34626 | ISO/WD TR 21607 | Optics and optical instruments — Interferometric testing of optical elements for surface form tolerances — Evaluation of rotational symmetric deviations by means of average radial profile | Izstrādē |
Attēlo no 201. līdz 208. no pavisam 208 ieraksta(-iem).