ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 30670 | ISO/CD 10110-16 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 16: Aspheric diffractive surfaces | Izstrādē |
| 57573 | ISO/PWI 10110-4 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 4: Imperfections des matériaux — Hétérogénéités et stries | Izstrādē |
| 42013 | ISO/WD 14999-5 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 5: Test methods for the determination of surface form or wavefront of optical elements and optical systems by interferometry | Izstrādē |
| 43742 | ISO/NP 9022-22 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 22: | Izstrādē |
| 74935 | ISO/PWI 9022-3 | Optique et photonique Mthodes d'essais d'environnement | Izstrādē |
| 44701 | ISO/WD 14999-5 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 5: Méthodes d'essai pour la détermination de la forme de suface ou du front d'onde des composants et systèmes optiques par moyen interférométrique | Izstrādē |
| 57571 | ISO/PWI 10110-2 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 2: Material imperfections — Stress birefringence | Izstrādē |
| 21140 | ISO/WD 13717 | Interferometers — Fundamental terminology | Izstrādē |
Attēlo no 201. līdz 208. no pavisam 208 ieraksta(-iem).