ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 91419 | ISO/PWI 10110-1 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 1: General | Izstrādē |
| 26274 | ISO/WD 15036 | Optics and optical instruments — Angle resolved optical scatter measurements on specular or diffuse surfaces | Izstrādē |
| 21140 | ISO/WD 13717 | Interferometers — Fundamental terminology | Izstrādē |
| 30651 | ISO/WD TR 14999-3 | Optique et instruments d'optique — Mesure interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 3: Étalonnage et validation des équipements d'essai interférométrique | Izstrādē |
| 30670 | ISO/CD 10110-16 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 16: Aspheric diffractive surfaces | Izstrādē |
| 33419 | ISO/NP 10109-15 | Optique et instruments d'optique — Prescriptions d'environnement — Partie 15: Instruments optiques dans les conditions de transport | Izstrādē |
| 63087 | ISO/PWI 18631 | Titre manque | Izstrādē |
| 35993 | ISO/WD 10110-3 | Optique et instruments d'optique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 3: Imperfections des matériaux — Bulles et inclusions | Izstrādē |
| 60683 | ISO/PWI 10110-18 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 18: Material imperfections | Izstrādē |
| 30650 | ISO/WD TR 14999-2 | Optique et instruments d'optique — Mesure interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et évaluations techniques | Izstrādē |
Attēlo no 201. līdz 210. no pavisam 210 ieraksta(-iem).