ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 17042 | ISO 9358:1994 | Optique et instruments d'optique — Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie — Définitions et méthodes de mesure | Standarts spēkā |
| 63596 | ISO 10110-9:2016 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 9: Traitement de surface et revêtement | Standarts spēkā |
| 69532 | ISO 10110-8:2019 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 8: Surface texture | Standarts spēkā |
| 69957 | ISO 10110-14:2018 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde | Standarts spēkā |
| 39932 | ISO/TR 14999-1:2005 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales | Standarts spēkā |
| 50089 | ISO 517:2008 | Photography — Apertures and related properties pertaining to photographic lenses — Designations and measurements | Standarts spēkā |
| 72599 | ISO 8478:2017 | Optique et photonique — Objectifs photographiques — Mesurage du facteur spectral de transmission ISO | Standarts spēkā |
| 65444 | ISO 10110-7:2017 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 7: Imperfections de surface | Standarts spēkā |
| 67537 | ISO 9022-14:2015 | Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 14: Rosée, givre, glace | Standarts spēkā |
| 69952 | ISO/TR 14999-2:2019 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation | Standarts spēkā |
Attēlo no 21. līdz 30. no pavisam 208 ieraksta(-iem).