ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 26177 | ISO/DTR 14999-1 | Optics and optical instruments — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 1: Definitions and fundamental relationships | Izstrādē |
| 86356 | ISO/DIS 14999-4 | Optics and photonics — Measurement of optical elements and optical systems — Part 4: Interpretation and evaluation of surface form and wavefront deformation tolerances specified in ISO 10110 | Aptauja |
| 86355 | ISO/DIS 10110-5 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface | Aptauja |
| 28135 | ISO/DIS 10110-15 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 15: Wavefront deformation tolerance for systems containing powered elements | Izstrādē |
| 13962 | ISO/CD 7300 | Photographie — Objectifs photographiques — Détermination de la distorsion de l'image | Izstrādē |
| 42838 | ISO/CD 25297 | Optique et photonique — Normes fondamentales — Transfert éléctronique des données optiques | Izstrādē |
| 35994 | ISO/CD 10110-6 | Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage | Izstrādē |
| 65267 | ISO/CD 10110-17 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser | Izstrādē |
| 30670 | ISO/CD 10110-16 | Optics and optical instruments — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 16: Aspheric diffractive surfaces | Izstrādē |
| 17042 | ISO 9358:1994 | Optique et instruments d'optique — Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie — Définitions et méthodes de mesure | Standarts spēkā |
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 208 ieraksta(-iem).