ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 22463 | ISO 11421:1997 | Optique et instruments d'optique — Exactitude du mesurage de la fonction de transfert optique (OTF) | Atcelts |
| 85988 | ISO 11421:2025 | Optics and photonics — Uncertainty of optical transfer function (OTF) measurement | Standarts spēkā |
| 21217 | ISO 13653:1996 | Optique et instruments d'optique — Méthodes générales d'essai optique — Méthode de mesurage de l'éclairement énergétique relatif dans le champ image | Atcelts |
| 72597 | ISO 13653:2019 | Optique et photonique — Méthodes générales d'essai optique — Méthode de mesure de l'éclairement énergétique relatif dans le champ image | Standarts spēkā |
| 25611 | ISO 14997:2003 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques | Atcelts |
| 55747 | ISO 14997:2011 | Optics and photonics — Test methods for surface imperfections of optical elements | Atcelts |
| 63464 | ISO 14997:2017 | Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques | Standarts spēkā |
| 33614 | ISO 14999-4:2007 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 4: Interpretation and evaluation of tolerances specified in ISO 10110 | Atcelts |
| 57568 | ISO 14999-4:2015 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 4: Interpretation and evaluation of tolerances specified in ISO 10110 | Standarts spēkā |
| 26583 | ISO 15368:2001 | Optique et instruments d'optique — Méthode de mesurage de la réflectance des surfaces planes et de la transmittance des éléments à plan parallèle | Atcelts |
Attēlo no 71. līdz 80. no pavisam 210 ieraksta(-iem).