ISO/TC 172/SC 1

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
86356ISO 14999-4:2026Optique et photonique — Mesurage de composants et systèmes optiques — Partie 4: Interprétation et évaluation des tolérances de forme de surface et de déformation du front d'onde spécifiées dans l’ISO 10110Standarts spēkā
26583ISO 15368:2001Optique et instruments d'optique — Méthode de mesurage de la réflectance des surfaces planes et de la transmittance des éléments à plan parallèleAtcelts
72598ISO 15368:2021Optique et photonique — Mesurage du facteur de réflexion des surfaces planes et du facteur de transmission des éléments à plan parallèleStandarts spēkā
28136ISO 15529:1999Optics and optical instruments — Optical transfer function — Principles of measurement of modulation transfer function (MTF) of sampled imaging systemsAtcelts
40748ISO 15529:2007Optique et photonique — Fonction de transfert optique — Principes de mesure de la fonction de transfert de modulation (MTF) des systèmes de formation d'image échantillonnésAtcelts
56069ISO 15529:2010Optique et photonique — Fonction de transfert optique — Principes de mesure de la fonction de transfert de modulation (MTF) des systèmes de formation d'image échantillonnésStandarts spēkā
28654ISO 15795:2002Optique et instrument d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiquesStandarts spēkā
50027ISO 15795:2002/Cor 1:2007Optique et instrument d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques — Rectificatif technique 1Standarts spēkā
69544ISO 19962:2019Optique et photonique — Méthodes de mesure spectroscopique pour la diffusion intégrée par des éléments optiques à plans parallèlesStandarts spēkā
46570ISO 25297-1:2010Optics and photonics — Electronic exchange of optical data — Part 1: NODIF information modelAtcelts
Attēlo no 81. līdz 90. no pavisam 210 ieraksta(-iem).