ISO/TC 172/SC 1
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 44701 | ISO/WD 14999-5 | Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 5: Méthodes d'essai pour la détermination de la forme de suface ou du front d'onde des composants et systèmes optiques par moyen interférométrique | Izstrādē |
| 44594 | ISO 9334:2007 | Optics and photonics — Optical transfer function — Definitions and mathematical relationships | Atcelts |
| 43742 | ISO/NP 9022-22 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 22: | Izstrādē |
| 43233 | ISO 9335:1995/Cor 1:2005 | Optique et photonique — Fonction de transfert optique — Principes et procédures de mesure — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
| 42838 | ISO/CD 25297 | Optique et photonique — Normes fondamentales — Transfert éléctronique des données optiques | Izstrādē |
| 42363 | ISO 10110-14:2007 | Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde | Atcelts |
| 42362 | ISO 10110-5:2007 | Optika un optiskās ierīces. Rasējumu sagatavošana optikas elementiem un sistēmām. 5. daļa: Virsmas pielaides | Atcelts |
| 42362 | ISO 10110-5:2007 | Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 5: Surface form tolerances | Atcelts |
| 42013 | ISO/WD 14999-5 | Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical systems — Part 5: Test methods for the determination of surface form or wavefront of optical elements and optical systems by interferometry | Izstrādē |
| 42012 | ISO 10110-7:2008 | Optika un optiskās ierīces. Rasējumu sagatavošana optikas elementiem un sistēmām. 7.daļa: Virsmas defektu pielaides | Atcelts |
Attēlo no 81. līdz 90. no pavisam 208 ieraksta(-iem).