ISO/TC 172/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 59592 | ISO 17328:2014 | Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai de l'indice de réfraction des matériaux optiques infrarouges | Atcelts |
| 40931 | ISO 9211-4:2006 | Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques | Atcelts |
| 92703 | ISO/PWI 9211-2 | Optics and photonics — Optical coatings — Part 2: Optical properties | Izstrādē |
| 36637 | ISO/WD 16150-2 | Optique et instruments d'optique — Caractéristiques des matériaux optiques — Partie 2: | Izstrādē |
| 88795 | ISO/CD 15368-2 | Optique et photonique — Mesurage du facteur de réflexion et du facteur de transmission — Partie 2: Facteur de transmission interne | Izstrādē |
| 36636 | ISO/WD 16150-1 | Optics and optical instruments — Characterization of optical materials used in spectral range 0,78 - 100 um per infra-red — Part 1: General properties | Izstrādē |
| 66735 | ISO/NP 19962 | Titre manque | Izstrādē |
| 51764 | ISO 9211-4:2006/DAmd 1 | Optique et instruments d'optique — Traitements optiques — Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques — Amendement 1 | Izstrādē |
| 66201 | ISO/NP 19742 | Titre manque | Izstrādē |
| 66199 | ISO/NP 19740 | Titre manque | Izstrādē |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 76 ieraksta(-iem).