ISO/TC 172/SC 4
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 78540 | ISO/AWI 14490-8 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 8: Test methods for night-vision devices | Izstrādē |
| 78539 | ISO/AWI 21094 | Optics and photonics — Telescopic systems — Specifications for night vision devices | Izstrādē |
| 78538 | ISO 14132-3:2021 | Optics and photonics — Vocabulary for telescopic systems — Part 3: Terms for telescopic sights | Standarts spēkā |
| 78537 | ISO 14135-2:2021 | Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance | Standarts spēkā |
| 78536 | ISO 14135-1:2021 | Optics and photonics — Specifications for telescopic sights — Part 1: General-purpose instruments | Standarts spēkā |
| 78535 | ISO 14490-3:2021 | Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | Standarts spēkā |
| 78534 | ISO 14490-5:2021 | Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission | Standarts spēkā |
| 75944 | ISO 14490-10:2021 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 10: Test methods for axial colour performance | Standarts spēkā |
| 75280 | ISO 9336-3:2020 | Optics and photonics — Optical transfer function — Application — Part 3: Telescopes | Standarts spēkā |
| 74493 | ISO 14490-9:2019 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 9: Test methods for field curvature | Atcelts |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 79 ieraksta(-iem).