ISO/TC 172/SC 4
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 70462 | ISO 14135-2:2017 | Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance | Atcelts |
| 66139 | ISO 14490-5:2005/Amd 1:2015 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 5: Test methods for transmittance — Amendment 1 | Atcelts |
| 37837 | ISO 14133-1:2006 | Optique et instruments d'optique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 1: Instruments d'usage général | Atcelts |
| 66244 | ISO 14132-1:2015 | Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 1: Termes généraux et index alphabétiques des termes dans l'ISO 14132 | Atcelts |
| 23652 | ISO 14132-1:2002 | Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 1: Termes généraux et index alphabétiques des termes dans l'ISO 14132 | Atcelts |
| 39173 | ISO 14490-3:2004 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | Atcelts |
| 66245 | ISO 14132-2:2015 | Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes | Atcelts |
| 62428 | ISO 14135-2:2014 | Optics and photonics — Specifications for telescopic sights — Part 2: High-performance instruments | Atcelts |
| 42111 | ISO 14490-6:2005 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 6: Test methods for veiling glare index | Atcelts |
| 39174 | ISO 14135-1:2003 | Optique et instruments d'optique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général | Atcelts |
Attēlo no 21. līdz 30. no pavisam 79 ieraksta(-iem).