ISO/TC 172/SC 4

Reģistrācijas numurs (WIID)Projekta Nr.NosaukumsStatuss
62429ISO 14490-3:2016Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 3: Test methods for telescopic sightsAtcelts
78535ISO 14490-3:2021Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 3: Test methods for telescopic sightsAtcelts
38742ISO 14490-4:2005Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 4: Test methods for astronomical telescopesStandarts spēkā
42110ISO 14490-5:2005Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmissionAtcelts
66139ISO 14490-5:2005/Amd 1:2015Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 5: Test methods for transmittance — Amendment 1Atcelts
70570ISO 14490-5:2017Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 5: Test methods for transmittanceAtcelts
78534ISO 14490-5:2021Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmissionStandarts spēkā
42111ISO 14490-6:2005Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 6: Test methods for veiling glare indexAtcelts
66250ISO 14490-6:2014Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasiteAtcelts
42112ISO 14490-7:2005Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 7: Test methods for limit of resolutionAtcelts
Attēlo no 31. līdz 40. no pavisam 79 ieraksta(-iem).