ISO/TC 172/SC 4
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 66250 | ISO 14490-6:2014 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 6: Test methods for veiling glare index | Atcelts |
| 42111 | ISO 14490-6:2005 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasite | Atcelts |
| 78534 | ISO 14490-5:2021 | Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission | Standarts spēkā |
| 70570 | ISO 14490-5:2017 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 5: Test methods for transmittance | Atcelts |
| 66139 | ISO 14490-5:2005/Amd 1:2015 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission — Amendement 1 | Atcelts |
| 42110 | ISO 14490-5:2005 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission | Atcelts |
| 38742 | ISO 14490-4:2005 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 4: Test methods for astronomical telescopes | Standarts spēkā |
| 78535 | ISO 14490-3:2021 | Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | Standarts spēkā |
| 62429 | ISO 14490-3:2016 | Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | Atcelts |
| 39173 | ISO 14490-3:2004 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | Atcelts |
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 79 ieraksta(-iem).