ISO/TC 172/SC 4
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
28138 | ISO 10109-4:2001 | Optique et instruments d'optique — Prescriptions d'environnement — Partie 4: Prescriptions d'essai pour les systèmes télescopiques | Atcelts |
25337 | ISO 14132-2:2002 | Optics and optical instruments — Vocabulary for telescopic systems — Part 2: Terms for binoculars, monoculars and spotting scopes | Atcelts |
25339 | ISO 14132-4:2002 | Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 4: Termes pour télescopes astronomiques | Atcelts |
23652 | ISO 14132-1:2002 | Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 1: Termes généraux et index alphabétiques des termes dans l'ISO 14132 | Atcelts |
68887 | ISO 14133-1:2016 | Optics and photonics — Specifications for binoculars, monoculars and spotting scopes — Part 1: General purpose instruments | Atcelts |
66250 | ISO 14490-6:2014 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 6: Test methods for veiling glare index | Atcelts |
70461 | ISO 14135-1:2017 | Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général | Atcelts |
74493 | ISO 14490-9:2019 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 9: Test methods for field curvature | Atcelts |
70570 | ISO 14490-5:2017 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 5: Test methods for transmittance | Atcelts |
62423 | ISO 14132-3:2014 | Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 3: Termes pour lunettes de pointage | Atcelts |
Attēlo no 41. līdz 50. no pavisam 79 ieraksta(-iem).