ISO/TC 172/SC 4
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
74493 | ISO 14490-9:2019 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 9: Test methods for field curvature | Atcelts |
66250 | ISO 14490-6:2014 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 6: Test methods for veiling glare index | Atcelts |
70570 | ISO 14490-5:2017 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 5: Test methods for transmittance | Atcelts |
39173 | ISO 14490-3:2004 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | Atcelts |
44115 | ISO 14132-2:2002/Cor 1:2006 | Optique et instruments d'optique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes — Rectificatif technique 1 | Atcelts |
37837 | ISO 14133-1:2006 | Optique et instruments d'optique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 1: Instruments d'usage général | Atcelts |
62428 | ISO 14135-2:2014 | Optics and photonics — Specifications for telescopic sights — Part 2: High-performance instruments | Atcelts |
68887 | ISO 14133-1:2016 | Optics and photonics — Specifications for binoculars, monoculars and spotting scopes — Part 1: General purpose instruments | Atcelts |
68888 | ISO 14133-2:2016 | Optics and photonics — Specifications for binoculars, monoculars and spotting scopes — Part 2: High performance instruments | Atcelts |
66244 | ISO 14132-1:2015 | Optics and photonics — Vocabulary for telescopic systems — Part 1: General terms and alphabetical indexes of terms in ISO 14132 | Atcelts |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 79 ieraksta(-iem).