ISO/TC 172/SC 4
Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
---|---|---|---|
78540 | ISO/AWI 14490-8 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 8: Test methods for night-vision devices | Izstrādē |
50742 | ISO/NP 9336-3 | Optique et photonique — Fonction de transfert optique — Application — Partie 3: Systèmes téléscopiques | Izstrādē |
81637 | ISO/PWI 21094 | Optique et photonique — Systèmes télescopiques — Spécifications pour dispositifs de vision de nuit | Izstrādē |
66247 | ISO/PWI 14490-3 | Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | Izstrādē |
33624 | ISO/DIS 14490-7 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 7: Test methods for limit of resolution | Izstrādē |
78541 | ISO/AWI 14132-5 | Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 5: Termes pour les dispositifs de vision de nuit | Izstrādē |
81639 | ISO/PWI 14132-5 | Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 5: Termes pour les dispositifs de vision de nuit | Izstrādē |
35652 | ISO/WD 21094 | Optique et instruments d'optique — Systèmes téléscopiques — Dispositifs de vision de nuit | Izstrādē |
62430 | ISO/CD 14490-5 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission | Izstrādē |
25340 | ISO/CD 14490-2 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 2: Test methods for binocular systems | Izstrādē |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 79 ieraksta(-iem).