ISO/TC 172/SC 4
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 28710 | ISO/DIS 14133-2 | Optique et instruments d'optique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 2: Instruments haute performance | Izstrādē |
| 78539 | ISO/AWI 21094 | Optics and photonics — Telescopic systems — Specifications for night vision devices | Izstrādē |
| 50742 | ISO/NP 9336-3 | Optique et photonique — Fonction de transfert optique — Application — Partie 3: Systèmes téléscopiques | Izstrādē |
| 81637 | ISO/PWI 21094 | Optique et photonique — Systèmes télescopiques — Spécifications pour dispositifs de vision de nuit | Izstrādē |
| 78541 | ISO/AWI 14132-5 | Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 5: Termes pour les dispositifs de vision de nuit | Izstrādē |
| 33623 | ISO/DIS 14490-6 | Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes téléscopiques — Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasite diffuse | Izstrādē |
| 23655 | ISO/DIS 14135-1 | Optique et instruments d'optique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général | Izstrādē |
| 33624 | ISO/DIS 14490-7 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 7: Test methods for limit of resolution | Izstrādē |
| 81636 | ISO/PWI 14490-6 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 6: Test methods for veiling glare index | Izstrādē |
| 81638 | ISO/PWI 14490-8 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 8: Test methods for night-vision devices | Izstrādē |
Attēlo no 51. līdz 60. no pavisam 79 ieraksta(-iem).