ISO/TC 172/SC 4
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 78534 | ISO 14490-5:2021 | Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission | Standarts spēkā |
| 78537 | ISO 14135-2:2021 | Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance | Standarts spēkā |
| 38742 | ISO 14490-4:2005 | Optics and optical instruments — Test methods for telescopic systems — Part 4: Test methods for astronomical telescopes | Standarts spēkā |
| 78535 | ISO 14490-3:2021 | Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | Standarts spēkā |
| 78538 | ISO 14132-3:2021 | Optics and photonics — Vocabulary for telescopic systems — Part 3: Terms for telescopic sights | Standarts spēkā |
| 66246 | ISO 14132-4:2015 | Optics and photonics — Vocabulary for telescopic systems — Part 4: Terms for astronomical telescopes | Standarts spēkā |
| 68899 | ISO 20711:2017 | Optics and photonics — Environmental requirements — Test requirements for telescopic systems | Standarts spēkā |
| 68890 | ISO 14490-7:2016 | Optics and photonics — Test methods for telescopic systems — Part 7: Test methods for limit of resolution | Standarts spēkā |
| 84015 | ISO 14133:2025 | Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Instruments d'usage général et haute performance | Standarts spēkā |
Attēlo no 71. līdz 79. no pavisam 79 ieraksta(-iem).